Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 01.04.10 Физика полупроводников / Зайцева Юлия Сергеевна
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Зайцева, Ю. С. |
| Опубликовано: | Москва , 2021 |
| Физические характеристики: |
23 с. : ил., табл.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||