|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ia4500 |
001 |
BY-NLB-br0001736902 |
005 |
20220302094456.0 |
100 |
# |
# |
$a 20211209d2021 k y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
105 |
# |
# |
$a a m 000yy
|
109 |
# |
# |
$a ac
$a aa
|
200 |
1 |
# |
$a Структура тонких пленок материалов фазовой памяти на основе Ge-Sb-Te по данным электронной микроскопии
$e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
$e специальность 01.04.10 Физика полупроводников
$f Зайцева Юлия Сергеевна
$g [Национальный исследовательский университет "МИЭТ"]
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$d 2021
|
215 |
# |
# |
$a 23 с.
$c ил., табл.
|
320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 19—23 (29 назв.)
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2749267
$a ФИЗИКА ПОЛУПРОВОДНИКОВ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar1978538
$a ХАЛЬКОГЕНИДНЫЕ ПОЛУПРОВОДНИКИ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar34161
$a ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2668111
$a СВЕРХРЕШЕТКИ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar35611
$a ФАЗОВЫЕ ПЕРЕХОДЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar5227796
$a ФАЗОВАЯ ПАМЯТЬ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar39126
$a ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar52660
$a РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2665900
$a НАНОСТРУКТУРЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar11011
$a ЗЕРНИСТАЯ СТРУКТУРА
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar24113
$a ПОДЛОЖКИ (электроника)
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar32598
$a СУРЬМА
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2726715
$a ПАССИВИРОВАНИЕ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar4540599
$a ПОВЕРХНОСТНЫЕ ДЕФЕКТЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2282245
$a МОЛЕКУЛЯРНО-ЛУЧЕВАЯ ЭПИТАКСИЯ
$2 DVNLB
|
686 |
# |
# |
$a 01.04.10
$2 oksvnk
|
686 |
# |
# |
$a 29.19.31
$v 6
$2 rugasnti
|
686 |
# |
# |
$a 29.19.16
$v 6
$2 rugasnti
|
686 |
# |
# |
$a 29.19.22
$v 6
$2 rugasnti
|
686 |
# |
# |
$a 29.19.15
$v 6
$2 rugasnti
|
700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-365553
$a Зайцева
$b Ю. С.
$g Юлия Сергеевна
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20211209
$g RCR
|