Надежность полупроводниковых приборов: [сборник статей]

Сохранено в:
Шифр документа: 32511-2аб,
Вид документа: Периодические издания
Опубликовано: Москва : Мир , 1974
Физические характеристики: 200 с. : ил. ; 26 см
Язык: Русский
Серия: Труды Института инженеров по электротехнике и радиоэлектронике т. 62, № 2

1974, Т.62,№2: Надежность полупроводниковых приборов. Тематический выпуск

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
32511-2аб ОФХ журналов и продолжающихся изданий (050) 13:2 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал