VLSI reliability / edited by Chenming Hu
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers , 1993 |
| Физические характеристики: |
С. [2], 651―792 : іл. ; 28 см
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Proceedings of the IEEE
vol. 81, № 5 |
Загрузка