Process integration and manufacturability / [guest editors: Rajendra Singh et al.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers , 1998 |
| Физические характеристики: |
С. 573―755 : іл. ; 28 см
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
IEEE transactions on electron devices
vol. 45, № 3 |
Загрузка