Characterization techniques for semiconductor materials, processes, and devices / [guest editors: Martin G. Buehler, W. Murray Bullis]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | New York : Institute of Electrical and Electronics Engineers , 1980 |
| Физические характеристики: |
С. 2203―2321, 32 : іл. ; 28 см
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
IEEE transactions on electron devices
vol. 27, № 12 |
Загрузка