Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук: специальность 01.04.01 Приборы и методы экспериментальной физики / Дементьева Мария Михайловна
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Дементьева, М. М. |
| Опубликовано: | Москва , 2019 |
| Физические характеристики: |
24 с. : табл., ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||