Измерение толщины тонких пленок и покрытий: обзор по материалам отечественной и зарубежной печати за 1958―1965 гг. / составители: Александров А. А., Свиридов В. В.
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Publié: | Москва : Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации , 1966 |
| Description matérielle: |
32, [2] с. ; 20 см
|
| Langue: | Русский |
| Collection: |
Обзоры научно-технической литературы по электронной технике
№ 7 |
1966, №7: Измерение толщины тонких пленок и покрытий
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Réserver | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||