Измерение толщины тонких пленок и покрытий: обзор по материалам отечественной и зарубежной печати за 1958―1965 гг. / составители: Александров А. А., Свиридов В. В.
Saved in:
| Format: | |
|---|---|
| Published: | Москва : Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации , 1966 |
| Physical Description: |
32, [2] с. ; 20 см
|
| Language: | Russian |
| Series: |
Обзоры научно-технической литературы по электронной технике
№ 7 |
1966, №7: Измерение толщины тонких пленок и покрытий
| All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||