Измерение толщины тонких пленок и покрытий: обзор по материалам отечественной и зарубежной печати за 1958―1965 гг. / составители: Александров А. А., Свиридов В. В.
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Апублікавана: | Москва : Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации , 1966 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
32, [2] с. ; 20 см
|
| Мова: | Руская |
| Серыя: |
Обзоры научно-технической литературы по электронной технике
№ 7 |
1966, №7: Измерение толщины тонких пленок и покрытий
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||