Измерение толщины тонких пленок и покрытий: обзор по материалам отечественной и зарубежной печати за 1958―1965 гг. / составители: Александров А. А., Свиридов В. В.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Москва : Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации , 1966 |
| Физические характеристики: |
32, [2] с. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры научно-технической литературы по электронной технике
№ 7 |
Загрузка