|
|
|
|
|
00000nam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001547376 |
| 005 |
20190420113706.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20190420d1966 |||y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a SU
|
| 105 |
# |
# |
$a y ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Измерение толщины тонких пленок и покрытий
$e обзор по материалам отечественной и зарубежной печати за 1958―1965 гг.
$f составители: Александров А. А., Свиридов В. В.
$g [редактор Кабакова Г. А.]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c Центральный научно-исследовательский институт технико-экономических исследований и научной инфрормации
$d 1966
|
| 215 |
# |
# |
$a 32, [2] с.
$d 20 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры научно-технической литературы по электронной технике
$i Серия: Технология и организация производства
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v № 7
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 27―33 (121 назв.)
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br456191
$1 2001
$v № 7
|
| 702 |
# |
1 |
$a Александров
$b А. А.
$4 220
|
| 702 |
# |
1 |
$a Свиридов
$b В. В.
$4 220
|
| 702 |
# |
1 |
$a Кабакова
$b Г. А.
$4 340
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20190420
$g RCR
|
