Методы измерения диффузионной длины неосновных носителей заряда в полупроводниках: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1934―1976 гг.) / [Ю. К. Крутоголов и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Крутоголов, Ю. К. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1976 |
| Физические характеристики: |
31, [1] с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1976, вып. 5 |
Загрузка