Производственные методы контроля чистоты деталей ИЭТ: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1988 гг.) / А. Е. Богатырев, Л. И. Шушунова, В. М. Николаев

Сохранено в:
Шифр документа: 207543-3,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Богатырев, А. Е.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1989
Физические характеристики: 43 с. : табл. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1989, вып. 3
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001467712
005 20180504143013.0
100 # # $a 20180504d1989 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Производственные методы контроля чистоты деталей ИЭТ  $e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1988 гг.)  $f А. Е. Богатырев, Л. И. Шушунова, В. М. Николаев 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1989 
215 # # $a 43 с.  $c табл.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 7  $i Технология, организация производства и оборудование  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1989, вып. 3 
320 # # $a Библиография: с. 39―43 (79 назв.) 
345 # # $a 1646 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br119311  $1 2001   $v 1989, вып. 3 
700 # 1 $a Богатырев  $b А. Е.  $g Александр Евгеньевич 
701 # 1 $a Шушунова  $b Л. И.  $g Лариса Ивановна 
701 # 1 $a Николаев  $b В. М.  $g Владислав Матвеевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20180504  $g psbo