Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1959―1991 гг.) / Н. И. Брагин, Л. А. Сурменко
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Брагин, Н. И. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1992 |
| Физические характеристики: |
28 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1992, вып. 2 |
Загрузка