|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
001 |
BY-NLB-br0001467408 |
005 |
20241017084520.0 |
100 |
# |
# |
$a 20180504d1992 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
200 |
1 |
# |
$a Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ
$e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1959―1991 гг.)
$f Н. И. Брагин, Л. А. Сурменко
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1992
|
215 |
# |
# |
$a 28 с.
$c ил.
$d 21 см
|
225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 7
$i Технология, организация производства и оборудование
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1992, вып. 2
|
320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 26―28 (40 назв.)
|
345 |
# |
# |
$a 265 экз.
|
461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br119311
$1 2001
$v 1992, вып. 2
|
700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-456952
$a Брагин
$b Н. И.
|
701 |
# |
1 |
$a Сурменко
$b Л. А.
$g Лев Андреевич
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20180504
$g RCR
|