Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1959―1991 гг.) / Н. И. Брагин, Л. А. Сурменко

Сохранено в:
Шифр документа: 218657-2,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Брагин, Н. И.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1992
Физические характеристики: 28 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1992, вып. 2
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001467408
005 20241017084520.0
100 # # $a 20180504d1992 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Перспективы применения лазерного микроанализа в технологии контроля состава локальных областей материалов и узлов ИЭТ  $e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1959―1991 гг.)  $f Н. И. Брагин, Л. А. Сурменко 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1992 
215 # # $a 28 с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 7  $i Технология, организация производства и оборудование  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1992, вып. 2 
320 # # $a Библиография: с. 26―28 (40 назв.) 
345 # # $a 265 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br119311  $1 2001   $v 1992, вып. 2 
700 # 1 $3 BY-SEK-456952  $a Брагин  $b Н. И. 
701 # 1 $a Сурменко  $b Л. А.  $g Лев Андреевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20180504  $g RCR