Методы рентгеновского микроанализа тонких пленок: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1960―1991 гг.) / В. И. Орлов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Баскаков, А. В. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1992 |
| Физические характеристики: |
68 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1992, вып. 6 |
Загрузка