Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем: (по материалам зарубежной печати за 1966―1986 гг.) / И. А. Калябина
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Калябина, И. А. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1986 |
| Физические характеристики: |
26 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1986, вып. 18 |
Загрузка