|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001466492 |
| 005 |
20180428145311.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20180428d1986 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем
$e (по материалам зарубежной печати за 1966―1986 гг.)
$f И. А. Калябина
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1986
|
| 215 |
# |
# |
$a 26 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 7
$i Технология, организация производства и оборудование
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1986, вып. 18
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 20―26 (64 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$a 1880 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br119311
$1 2001
$v 1986, вып. 18
|
| 700 |
# |
1 |
$a Калябина
$b И. А.
$g Иллирия Алексеевна
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20180428
$g psbo
|
