C - V методы измерения параметров МОП - структур: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.) / [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Колешко, В. М. (род. 1942) |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1977 |
| Физические характеристики: |
82 c. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1977, вып. 2 |
Загрузка