C - V методы измерения параметров МОП - структур: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.) / [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан]

Сохранено в:
Шифр документа: 153219-2,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Колешко, В. М. (род. 1942)
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1977
Физические характеристики: 82 c. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1977, вып. 2
Загрузка