|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
001 |
BY-NLB-br0001443583 |
005 |
20180123143755.0 |
100 |
# |
# |
$a 20180123d1977 y0rusy50 ||||ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
200 |
1 |
# |
$a C - V методы измерения параметров МОП - структур
$e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.)
$f [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан]
|
210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1977
|
215 |
# |
# |
$a 82 c.
$c ил.
$d 21 см
|
225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 3
$i Микроэлектроника
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1977, вып. 2
|
320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 78―82 (76 назв.)
|
345 |
# |
# |
$9 1980 экз.
|
461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br78454
$1 2001
$v 1977, вып. 2
|
700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-224689
$a Колешко
$b В. М.
$g Владимир Михайлович
$c доктор технических наук
$f род. 1942
|
701 |
# |
1 |
$a Каплан
$b Г. Д.
$g Григорий Давыдович
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170403
$g psbo
|