C - V методы измерения параметров МОП - структур: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.) / [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан]

Сохранено в:
Шифр документа: 153219-2,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Колешко, В. М. (род. 1942)
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1977
Физические характеристики: 82 c. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1977, вып. 2
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001443583
005 20180123143755.0
100 # # $a 20180123d1977 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a C - V методы измерения параметров МОП - структур  $e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1962―1975 гг.)  $f [В. М. Колешко, Г. Д. Каплан] 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1977 
215 # # $a 82 c.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 3  $i Микроэлектроника  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1977, вып. 2 
320 # # $a Библиография: с. 78―82 (76 назв.) 
345 # # $9 1980 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br78454  $1 2001   $v 1977, вып. 2 
700 # 1 $3 BY-SEK-224689  $a Колешко  $b В. М.  $g Владимир Михайлович  $c доктор технических наук  $f род. 1942 
701 # 1 $a Каплан  $b Г. Д.  $g Григорий Давыдович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170403  $g psbo