Прогнозирование надежности конденсаторов по результатам форсированных испытаний: (по данным отечественной и зарубежной печати с 1960 до 1991 гг.) / М. П. Каминский, Л. Л. Кристалинский

Сохранено в:
Шифр документа: 218985-2,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Каминский, М. П.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1992
Физические характеристики: 40 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1992, вып. 2
Загрузка