Прогнозирование надежности конденсаторов по результатам форсированных испытаний: (по данным отечественной и зарубежной печати с 1960 до 1991 гг.) / М. П. Каминский, Л. Л. Кристалинский

Сохранено в:
Шифр документа: 218985-2,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Каминский, М. П.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1992
Физические характеристики: 40 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1992, вып. 2
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001434870
005 20171207153330.0
100 # # $a 20171207d1992 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Прогнозирование надежности конденсаторов по результатам форсированных испытаний  $e (по данным отечественной и зарубежной печати с 1960 до 1991 гг.)  $f М. П. Каминский, Л. Л. Кристалинский  $g [научный редактор Б. Ю. Геликман] 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1992 
215 # # $a 40 с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 5  $i Радиодетали и радиокомпоненты  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1992, вып. 2 
320 # # $a Библиография: с. 37―40 (48 назв.) 
345 # # $9 160 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br78455  $1 2001   $v 1992, вып. 2 
700 # 1 $a Каминский  $b М. П.  $g Марк Петрович 
701 # 1 $a Кристалинский  $b Л. Л.  $g Лев Леонидович 
702 # 1 $a Геликман  $b Б. Ю.  $4 340 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20171207  $g psbo