|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001378504 |
| 005 |
20170419145420.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20170419d1971 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Методы и аппаратура для измерения параметров рассеяния транзисторов
$f Э. В. Шашкина
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c Институт "Электроника"
$d 1971
|
| 215 |
# |
# |
$a 25, [1] с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$i Серия: Контрольно-измерительная аппаратура
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1971, вып. 4
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 23―25 (22 назв.)
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br453665
$1 2001
$v 1971, вып. 4
|
| 700 |
# |
1 |
$a Шашкина
$b Э. В.
$g Эльвира Викторовна
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170403
$g psbo
|
