Измерение толщины тонких пленок, отличающихся электрофизическими свойствами / Н. И. Докукина
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Докукина, Н. И. |
Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1970 |
Физические характеристики: |
29, [1] с. : ил. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Обзоры по электронной технике
1970, вып. 7 |
Загрузка