Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 1: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Вальков, В. М. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1981 |
| Физические характеристики: |
57 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1981, вып. 2 |
Загрузка