|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001377178 |
| 005 |
20170415093432.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20170415d1981 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 1
$i Методологические вопросы
$e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.)
$f В. М. Вальков
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1981
|
| 215 |
# |
# |
$a 57 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 8
$i Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1981, вып. 2
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 57―58 (21 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1650 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0000429881
$1 2001
$v 1981, вып. 2
|
| 700 |
# |
1 |
$a Вальков
$b В. М.
$g Виталий Михайлович
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170415
$g psbo
|
