Статистический анализ технологических процессов на основе обработки результатов тестового контроля / С. А. Еремин, Д. Б. Десятов, В. В. Сысоев

Сохранено в:
Шифр документа: 205701-5,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Еремин, С. А.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1988
Физические характеристики: 54 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1988, вып. 5
Загрузка