Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А3В5: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1989 гг.) / А. В. Бобыль [и др.]

Сохранено в:
Шифр документа: 217087-1,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Бобыль, А. В.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1990
Физические характеристики: 64 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1990, вып. 1

1990, Вып.1: Оптические методы диагностики... / Бобыль А. В.

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
217087-1 ОФХ журналов и продолжающихся изданий (050) 14:2 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал