Модели и методы тестового диагностирования микропроцессорных БИС / В. В. Данилов [и др.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Данилов, В. В. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1984 |
| Физические характеристики: |
38 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1984, вып. 2 |
Загрузка