Лазерные методы контроля полупроводниковых материало и структур / В. Н. Амазаспян [и др.]

Сохранено в:
Шифр документа: 191274-3,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Амазаспян, В. Н.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1984
Физические характеристики: 52 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1984, вып. 3
Загрузка