Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова

Сохранено в:
Шифр документа: 173575-3,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Глудкин, О. П.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1980
Физические характеристики: 36 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1980, вып. 3
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001376863
005 20170414114747.0
100 # # $a 20170414d1980 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий  $e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967―1977 гг.)  $f [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова  $g научный редактор И. Н. Суслова] 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1980 
215 # # $a 36 с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $h Серия 8  $i Управление качеством, метрология, стандартизация  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1980, вып. 3 
300 # # $a Авторы указаны на обложке 
320 # # $a Библиография: с. 34―36 (24 назв.) 
345 # # $9 1520 экз. 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br0000429842  $1 2001   $v 1980, вып. 3 
700 # 1 $a Глудкин  $b О. П.  $g Олег Павлович 
701 # 1 $a Русанова  $b А. Л.  $g Ада Львовна 
702 # 1 $a Суслова  $b И. Н.  $4 340 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170414  $g psbo