|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001376812 |
| 005 |
20170414105014.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20170414d1979 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Анализ брака и отказов интегральных схем
$e (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1958―1978 гг.)
$f [Л. Н. Блеялкина, и др.]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1979
|
| 215 |
# |
# |
$a 44 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 8
$i Управление качеством, метрология, стандартизация
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1979, вып. 2
|
| 300 |
# |
# |
$a Авторы указаны на обложке
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 41―44 (59 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1700 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br0000429842
$1 2001
$v 1979, вып. 2
|
| 700 |
# |
1 |
$a Блеялкина
$b Л. Н.
$g Лидия Николаевна
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170413
$g psbo
|
