Бесконтактные методы неразрушающего контроля электрофизических параметров полупроводниковых структур: (реферативный обзор) / Г. Х. Якудин, А. А. Шибаев, О. Н. Пономаренко

Сохранено в:
Шифр документа: 125378-19,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Ягудин, Г. Х.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1973
Физические характеристики: 52, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1973, вып. 4
Загрузка