Бесконтактные методы неразрушающего контроля электрофизических параметров полупроводниковых структур: (реферативный обзор) / Г. Х. Якудин, А. А. Шибаев, О. Н. Пономаренко

Сохранено в:
Шифр документа: 125378-19,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Ягудин, Г. Х.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1973
Физические характеристики: 52, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1973, вып. 4
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001375857
005 20170412133109.0
100 # # $a 20170412d1973 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Бесконтактные методы неразрушающего контроля электрофизических параметров полупроводниковых структур  $e (реферативный обзор)  $f Г. Х. Якудин, А. А. Шибаев, О. Н. Пономаренко 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1973 
215 # # $a 52, [1] с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $i Серия: Полупроводниковые приборы  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1973, вып. 4 
320 # # $a Библиография: с. 44―52 (82 назв.) 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br78453  $1 2001   $v 1973, вып. 4 
700 # 1 $a Ягудин  $b Г. Х.  $g Гади Хасянович 
701 # 1 $a Шибаев  $b А. А.  $g Алексей Алексеевич 
701 # 1 $a Пономаренко  $b О. Н.  $g ОльгаНиколаевна 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170403  $g psbo