|
|
|
|
|
00000cam2a22000003is4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001375590 |
| 005 |
20170412093533.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20170412d1983 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||000yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Электрические методы исследования дефектности тонких диэлектрических слоев
$e (по данным отечественной и зарубежной печати за 1964―1982 гг.)
$f О. П. Глудкин
$g [научный редактор И. Н. Суслова]
|
| 210 |
# |
# |
$a Москва
$c ЦНИИ "Электроника"
$d 1983
|
| 215 |
# |
# |
$a 56 с.
$c ил.
$d 21 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Обзоры по электронной технике
$h Серия 2
$i Полупроводниковые приборы
$f Министерство электронной промышленности СССР
$v 1983, вып. 2
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 51―56 (78 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 1860 экз.
|
| 461 |
# |
1 |
$1 001BY-NLB-br78453
$1 2001
$v 1983, вып. 2
|
| 700 |
# |
1 |
$a Глудкин
$b О. П.
$g Олег Павлович
|
| 702 |
# |
1 |
$a Суслова
$b И. Н.
$4 340
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20170412
$g psbo
|
