Методы и средства изучения температуры в полупроводниковом производстве: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1979―1986 гг.) / О. С. Моряков, С. А. Вихров

Сохранено в:
Шифр документа: 202823-4,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Моряков, О. С.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1987
Физические характеристики: 55 с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1987, вып. 4
Загрузка