Метод рентгеноэлектронной спектроскопии в технологии контроля процессов изготовления ИЭТ: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1983 гг.) / Ю. А. Матвеев
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Матвеев, Ю. А. |
Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1984 |
Физические характеристики: |
55 с. : ил. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Обзоры по электронной технике
1984, вып. 6 |
Загрузка