Методы измерения малых ослаблений на СВЧ / В. В. Карамзина, З. Ф. Сидорова

Сохранено в:
Шифр документа: 125375-6,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Карамзина, В. В.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1973
Физические характеристики: 38, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1973, вып. 6
Загрузка