Методы измерения малых ослаблений на СВЧ / В. В. Карамзина, З. Ф. Сидорова

Сохранено в:
Шифр документа: 125375-6,
Вид документа: Периодические издания
Автор: Карамзина, В. В.
Опубликовано: Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1973
Физические характеристики: 38, [1] с. : ил. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Обзоры по электронной технике 1973, вып. 6
00000cam2a22000003is4500
001 BY-NLB-br0001371591
005 20170328133354.0
100 # # $a 20170328d1973 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Методы измерения малых ослаблений на СВЧ  $f В. В. Карамзина, З. Ф. Сидорова 
210 # # $a Москва  $c ЦНИИ "Электроника"  $d 1973 
215 # # $a 38, [1] с.  $c ил.  $d 21 см 
225 1 # $a Обзоры по электронной технике  $i Серия: Электроника СВЧ  $f Министерство электронной промышленности СССР  $v 1973, вып. 6 
320 # # $a Библиография: с. 36―38 (39 назв.) 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br0000420969  $1 2001   $v 1973, вып. 6 
700 # 1 $a Карамзина  $b В. В.  $g Валентина Васильевна 
701 # 1 $a Сидорова  $b З. Ф. 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20170328  $g psbo