Исследование и разработка неразрушающих ускоренных методов прогнозирования электромиграционной стойкости металлической разводки интегральных схем: автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук: специальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах / Сафонов Сергей Олегович

Сохранено в:
Шифр документа: 2//189048(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Сафонов, С. О.
Опубликовано: Москва , 2015
Физические характеристики: 25 с. : ил., табл.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a2200000 ia4500
001 BY-NLB-br0001184132
005 20150603093806.0
100 # # $a 20150406d2015 k y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a m 000yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Исследование и разработка неразрушающих ускоренных методов прогнозирования электромиграционной стойкости металлической разводки интегральных схем  $e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук  $e специальность 05.27.01 Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах  $f Сафонов Сергей Олегович  $g [Национальный исследовательский университет "МИЭТ"] 
210 # # $a Москва  $d 2015 
215 # # $a 25 с.  $c ил., табл. 
320 # # $a Библиография: с. 23—25 (10 назв.) 
606 0 # $3 BY-NLB-ar11906  $a ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2397232  $a ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar56222  $a ОЦЕНКИ МЕТОДЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar3217679  $a ПРОГНОЗИРОВАНИЕ НАДЕЖНОСТИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar12334  $a ИСПЫТАНИЯ  $2 DVNLB 
686 # # $a 47.33.31  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 47.14.23  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 47.01.81  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 05.27.01  $2 oksvnk 
700 # 1 $3 BY-SEK-ar8751085  $a Сафонов  $b С. О.  $g Сергей Олегович 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20150406  $g psbo