Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: специальность 01.04.01 Приборы и методы экспериментальной физики / Свиташева Светлана Николаевна

Сохранено в:
Шифр документа: 2//173641(039),
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Свиташева, С. Н.
Опубликовано: Новосибирск , 2014
Физические характеристики: 32 с. : ил.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a2200000 ia4500
001 BY-NLB-br0001080688
005 20140722154058.0
100 # # $a 20140604d2014 k y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
105 # # $a a m 000yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов  $e автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук  $e специальность 01.04.01 Приборы и методы экспериментальной физики  $f Свиташева Светлана Николаевна  $g [Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук] 
210 # # $a Новосибирск  $d 2014 
215 # # $a 32 с.  $c ил. 
320 # # $a Библиография: с. 28—32 
606 0 # $3 BY-NLB-ar38718  $a ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ФИЗИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar9575  $a ДИЭЛЕКТРИКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar24594  $a ПОЛУПРОВОДНИКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar18028  $a МЕТАЛЛЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2862840  $a НАНОПЛЕНКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar60422  $a ЭЛЛИПСОМЕТРИЯ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar38082  $a ШЕРОХОВАТОСТЬ ПОВЕРХНОСТИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar88186  $a ГРАНИЦЫ РАЗДЕЛА  $2 DVNLB 
686 # # $a 01.04.01  $2 oksvnk 
686 # # $a 29.03.31  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 29.19.16  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 29.19.22  $2 rugasnti  $v 6 
686 # # $a 59.45.37  $2 rugasnti  $v 6 
700 # 1 $3 BY-SEK-808866  $a Свиташева  $b С. Н.  $g Светлана Николаевна  $c кандидат физико-математических наук, физик 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20140604  $g psbo