Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии: [сборник статей] / ответственный редактор Ю. А. Новиков

Сохранено в:
Шифр документа: 3//336201(050),
Вид документа: Продолжающиеся издания
Опубликовано: Москва : Наука , 2006
Физические характеристики: 142, [5] с. : ил. ; 24 см
Язык: Русский
Серия: Труды Института общей физики им. А. М. Прохорова т. 62
00000cam2a22000003ij4500
001 BY-NLB-br0001062570
005 20140507093746.0
100 # # $a 20140507d2006 y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus  $d eng 
102 # # $a RU 
105 # # $a a ||||000yy 
200 1 # $a Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии  $e [сборник статей]  $f ответственный редактор Ю. А. Новиков 
210 # # $a Москва  $c Наука  $d 2006 
215 # # $a 142, [5] с.  $c ил.  $d 24 см 
225 2 # $a Труды Института общей физики им. А. М. Прохорова  $f Российская академия наук  $x 0233-9390  $v т. 62 
300 # # $a Резюме статей на английском 
320 # # $a Библиография в конце статей 
461 # 1 $1 001BY-NLB-br133088  $1 2001   $v Т. 62 
512 1 # $a Труды ИОФАН  $z rus 
702 # 1 $3 BY-SEK-236549  $a Новиков  $b Ю. А.  $4 340 
711 0 2 $3 BY-SEK-ar7236186  $a Институт общей физики имени А. М. Прохорова  $c Москва 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20140507  $g psbo