Rozwój i zastosowanie zaawansowanych technik mikroskopii sił atomowych w diagnostyce materiałów elektrotechnicznych: wybrane zagadnienia / Andrzej Sikora
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Sikora, A. |
| Опубликовано: | Warszawa : IEL , 2012 |
| Физические характеристики: |
186 c. : іл., каляр. іл. ; 24 см
|
| Язык: | Польский |
| Серия: |
Prace Instytutu Elektrotechniki
r. 59, z. 257 |
| Предмет: |
Загрузка