|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0000603747 |
| 005 |
20110112145203.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20101210d2010 k y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 105 |
# |
# |
$a a m 000yy
|
| 109 |
# |
# |
$a ac
$a aa
|
| 200 |
1 |
# |
$a Математическое моделирование теплоэлектрических процессов в структурах полупроводниковых изделий с дефектами
$e автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук
$e 05.13.18
$f Ходаков Александр Михайлович
$g [Ульяновский государственный технический университет]
|
| 210 |
# |
# |
$a Ульяновск
$d 2010
|
| 215 |
# |
# |
$a 24 с.
$c ил.
|
| 320 |
# |
# |
$a Библиография: с. 23—24 (16 назв.)
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar4167
$a БИПОЛЯРНЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar24596
$a ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar9083
$a ДЕФЕКТЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar3250891
$a ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2167233
$a ЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ МОЩНОСТЬ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar33288
$a ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2113377
$a МАТЕМАТИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar9079
$a ДЕФЕКТОСКОПИЯ
$2 DVNLB
|
| 686 |
# |
# |
$a 47.03.05
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 47.01.77
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 81.09.81
$2 rugasnti
$v 6
|
| 686 |
# |
# |
$a 05.13.18
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$a Ходаков
$b А. М.
$g Александр Михайлович
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20101210
$g psbo
|
