Нанотехнологии, метрология, стандартизация и сертификация в терминах и определениях / под редакцией М. В. Ковальчука, П. А. Тодуа
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | Москва : Техносфера , 2009 |
Физические характеристики: |
135 с. ; 22 см
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Мир материалов и технологий
VI-26 |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|