Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.01 / Окунев Алексей Олегович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Окунев, А. О. |
| Опубликовано: | Ижевск , 2009 |
| Физические характеристики: |
46 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||