|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ib4500 |
001 |
BY-NLB-br0000126146 |
005 |
20130430184243.9 |
010 |
# |
# |
$a 978-985-444-870-1
|
100 |
# |
# |
$a 20071217d2007 f y0rusy50 ca
|
101 |
0 |
# |
$a rus
|
102 |
# |
# |
$a BY
|
105 |
# |
# |
$a a j 000yy
|
109 |
# |
# |
$a ga
|
200 |
1 |
# |
$a Надежность и контроль качества интегральных схем
$e лабораторный практикум для студентов специальности I-41 01 02 "Микро- и наноэлектронные технологии и системы" дневной и заочной форм обучения
$f Б. С. Колосницын, П. П. Стешенко, Е. А. Уткина
$g Министерство образования Республики Беларусь, Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники", Кафедра микро- и наноэлектроники
|
210 |
# |
# |
$a Минск
$c БГУИР
$d 2007
|
215 |
# |
# |
$a 41 с.
$c ил., табл.
$d 20 см
|
320 |
# |
# |
$a Библиография в конце лабораторных работ
|
345 |
# |
# |
$9 100 экз.
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar11906
$a ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar11562
$a ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДИОДЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar4167
$a БИПОЛЯРНЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2644768
$a ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar31927
$a СТАТИСТИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar19438
$a НАДЕЖНОСТИ ТЕОРИЯ
$2 DVNLB
|
615 |
# |
# |
$a Белорусский национальный документ
|
675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.019.3(076.5)(075.8)
$v 4
$z rus
|
686 |
# |
# |
$a 47.33.31
$2 rugasnti
$v 5
|
686 |
# |
# |
$a 47.01.81
$2 rugasnti
$v 5
|
686 |
# |
# |
$a 47.01.33
$2 rugasnti
$v 5
|
700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-145893
$a Колосницын
$b Б. С.
$g Борис Сергеевич
$c кандидат технических наук
|
701 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-187621
$a Стешенко
$b П. П.
$g Павел Павлович
|
701 |
# |
1 |
$3 BY-NLB-ar2664462
$a Уткина
$b Е. А.
$g Елена Апполинарьевна
|
711 |
0 |
2 |
$3 BY-NLB-ar2638592
$a Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники
$c Минск
$b Кафедра микро- и наноэлектроники
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071217
$g psbo
|