|
|
|
|
|
00000cam0a2200000 ib4500 |
001 |
BY-NLB-br0000040455 |
005 |
20140410141756.0 |
010 |
# |
# |
$a 5-02-024963-7
$b в переплете
|
100 |
# |
# |
$a 20070410d2002 k y0rusy50 ca
|
101 |
1 |
# |
$a rus
$c eng
|
102 |
# |
# |
$a RU
|
105 |
# |
# |
$a a z 001yy
|
109 |
# |
# |
$a aa
|
200 |
1 |
# |
$a Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография
$e [перевод с английского]
$f Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер
$g ответственный редактор И. Л. Шульпина
|
210 |
# |
# |
$a Санкт-Петербург
$c Наука, Санкт-Петербургская издательская фирма
$d 2002
|
215 |
# |
# |
$a 273, [1] c.
$c ил.
$d 25 см
|
300 |
# |
# |
$a Перевод изд.: High resolution x-ray diffractometry and topography / Bowen Keith D., Tanner Brian K. Taylor & Francis, 1998
|
320 |
# |
# |
$a Библиография в конце разделов
|
320 |
# |
# |
$a Предметный указатель: с. 271―274
|
345 |
# |
# |
$9 700 экз.
|
454 |
# |
0 |
$1 2000
$a High resolution x-ray diffractometry and topography
$1 700 1
$a Bowen
$b Keith D.
$1 702 1
$a Tanner
$b Brian K.
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar28143
$a РЕНТГЕНОВСКИЕ ДИФРАКТОМЕТРЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar62305
$a ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2138471
$a РЕНТГЕНОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar20472
$a НЕРАЗРУШАЮЩИЙ КОНТРОЛЬ
$2 DVNLB
|
606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2681937
$a РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ
$2 DVNLB
|
675 |
# |
# |
$a 620.179.152.1
$v 4
$z rus
|
675 |
# |
# |
$a 539.26
$v 4
$z rus
|
675 |
# |
# |
$a 548.73
$v 4
$z rus
|
686 |
# |
# |
$a 29.19.19
$2 rugasnti
$v 5
|
686 |
# |
# |
$a 81.09.81
$2 rugasnti
$v 5
|
686 |
# |
# |
$a 59.45.39
$2 rugasnti
$v 5
|
700 |
# |
1 |
$3 BY-NLB-ar2700835
$a Боуэн
$b Д. К.
$g Дэвид Кит
$f род. 1940
|
701 |
# |
1 |
$a Таннер
$b Б. К.
|
702 |
# |
1 |
$a Шульпина
$b И. Л.
$4 340
|
801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070410
$g psbo
|